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    • 作物冠層分析儀
    • TOP-1200
    • 作物冠層分析儀采用近紅外光反射光譜技術和多通道光譜信息掃描技術,可以測量作物冠層植被指數RVI 和 NDVI,快速、無損、全天候獲取作物生長信息(包括作物葉層氮含量、葉層氮積累量、葉面積指數、葉干重等生長指標)。


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